Nanoanalytik in der Praxis: Nano- und Mikrobereichsanalyse von Oberflächen und Materialien
| Datum |
Dienstag,
10.11.2009 09:00
bis Mittwoch, 11.11.2009 16:15 |
|---|---|
| Ort | Regensburg |
| Kontakt | Dipl.-Päd. Diana Wirtz |
| diana.wirtz@otti.de | |
| Telefon | +49 941 29688 33 |
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Das Portfolio der analytischen Techniken und die Nanometer-Dimension werden kontinuierlich erweitert und erschlossen.
Hier erfahren Sie alles über neuere nano- und oberflächenanalytische Methoden:
Analytische Techniken
- Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Photoelektronenmikroskopie (XPS, ESCA)
- Rasterkraftmikroskopie (AFM, SXM)
- Sekundärionenmassenspektrometrie ((ToF-)SIMS)
- Ionenstreuungsspektroskopie (ISS, LEIS)
Anwendungsbereiche
- Produktentwicklung
- Produktions- und Qualitätskontrolle
- Fehleranalytik
